【技术篇】快速温变试验箱测试半导体表面温度控制
快速温变试验箱测试半导体表面温度控制立一科技的快速温变试验箱符合半导体表面温度控制的测试标准,针对温度循环测试及温度冲击的许多要求,如:JEDEC-22A-104F-2020、IPC9701A-2006、MIL-883K-2016),电动车与车用电子的相关国际规范,其主要试验也是依据待测品表面的温度循环试验(如:ISO16750、AEC-Q100、LV124、GMW3172)。早期快速温变试验箱的温度循环试验都只有看…
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